Вплив опромiнення електронами з Е 1 2 МеВ на електричнi фотоелектричнiй оптичнi властивостi мон
Вплив опромiнення електронами з Е=1,2 МеВ на електричнi, фотоелектричнi
й оптичнi властивостi монокристалiв сульфiду кадмiю, легованого атомами
iндiю
Сульфiд кадмiю належить до перспективних напiвпровiдникових матерiалiв, якi використовуються в електроннiй, оптоелектроннiй i лазернiй технiцi. Фiзичнi властивостi кристалiв CdS суттєво залежать вiд їхнього дефектного стану. Крiм того, внаслiдок ряду особливостей, все частiше цi сполуки розглядають як модельний матерiал для вивчення типу i структурних особливостей дефектiв у широкозонних напiвпровiдниках групи АІІ
ВІV
. Тому великий iнтерес викликає дослiдження впливу власних дефектiв решiтки i їх комплексiв (якi включають також легуючi домiшки) на фiзичнi властивостi CdS-монокристалiв. Зручним методом змiни дефектного стану зразкiв є опромiнення їх частинками високих енергiй.
У поданiй статтi дослiджувався вплив опромiнення швидкими електронами на електричнi, фотоелектричнi й оптичнi властивостi легованих iндiєм монокристалiв CdS. Монокристали вирощувалися в iнститутi монокристалiв (м. Харкiв) iз розплаву спецiально очищеного порошку CdS в атмосферi iнертного газу пiд тиском 1,86×107In
»1018
см-3
, NIn
»1019
см-3
i NIn
»1020
см-3 вище 290 К. Доза опромiнення становила Ф»2×1017
см-2
.
Спектри поглинання (СП) i фотолюмiнесценцiї (ФЛ) вимiрювалися стандартним методом на змiнному сигналi з використанням синхронного детектування. Як аналiзу- ючi прилади використовувалися спектрографи ИСП-51 i ИКС-12. Вимiрювання спектрального розподiлу фотопровiдностi (ФП) й оптичного гашення фотопровiдностi (ОГФ) здiйснювалися стандартним методом на постiйному сигналi.
Особливiстю легованих iндiєм монокристалiв СdS є поява при кiмнатнiй температурi додаткового домiшкового поглинання з максимумом =525 нм. У легованих монокристалах з’являється також додаткова домiшкова фотопровiднiсть, максимум якої близький до максимуму додаткового поглинання 524 нм (рис. 1, крива 1, пiк I). Зi зниженням температури максимуми домiшкового поглинання i ФП виморожуються (рис. 1, крива 2). Змiщення пiка власної фотопровiдностi II з максимумом 513 нм (Т=290 К) у короткохвильову область, при зниженнi температури, до 490 нм (Т=80 К) добре узгоджується iз зростанням ширини забороненої зони (Еg
) монокристала CdS при його охолодженнi.
Опромiнення легованих кристалiв електронами з Е=1,2 МеВ i дозою Ф=2×1017
см-2
призводить до зникнення домiшкових максимумiв поглинання i фотопровiдностi з 524 нм. Крiм того, зростає фоточутливiсть в областi власної фотопровiдностi (пiк II) i зменшується в домiшковiй областi з >550 нм, що особливо добре спостерiгається при низьких температурах (рис. 1, кривi 3 i 4).
Слiд вiдмiтити також, що електронне опромiнення зразкiв дозою 2×1017
см-2
супроводжується зменшенням майже на два порядки величини (в порiвняннi з неопромiненими кристалами) темнової електропровiдностi. До опромiнення в дослiджуваних зразках спостерiгалося добре вiдоме в лiтературi невелике (до 5 %) ОГФ з максимумами при (0,9-0,95) мкм i 1,4 мкм (останнiй виморожується при зниженнi температури), за яке вiдповiдальнi вакансiї кадмiю (VCd
) [1, 2] (рис. 2а, крива 1).
Пiсля опромiнення структура кривих ОГФ кардинально змiнилася (рис. 2а, кривi 2 i 3). Перш за все зросла величина спектрального розподiлу оптичного гашення фотопровiдностi. Змiнилося положення максимумiв смуг ОГФ (0,75 мкм i 1,03 мкм, рис. 2а, крива 2). Із зниженням температури максимум з 1,03 мкм виморожується, а максимум з змiщується в довгохвильову область до 0,82 мкм (рис. 2а, крива 3).
При записуваннi спектрiв фотолюмiнесценцiї (ФЛ) легованих зразкiв з метою порiвняня записувалися спектри нелегованих кристалiв, вирощених у тих умовах, що й легованi зразки. Люмiнесценцiя збуджувалася ультрафiолетовим випромiнюванням (=365 нм) ртутної лампи ДРШ-250 на свiжо сколотих поверхнях кристала.
При кiмнатнiй температурi максимум свiчення нелегованих кристалiв перебував у зеленiй областi з вершиною =510 нм, спостерiгалося невелике свiчення в червонiй (з 700-710 нм) та iнфрачервонiй (з 1,03 мкм) областях спектра (рис. 3, крива 1). Введення домiшки In викликає рiзке зменшення iнтенсивностi люмiнесценцiї. Для кристалiв з великою концентрацiєю In (NIn
1019
-1020
см-3 з 660 нм i 0,95 мкм (рис. 3, крива 2).
При температурi рiдкого азоту спектри люмiнесценцiї нелегованих зразкiв мали смуги екситонного випромiнювання з мах
=480 нм, зеленого випромiнювання (з-люмiнесценцiї) з добре роздiленими фононними повтореннями i з положенням першого максимуму 514 нм, спостерiгалася слабка оранжева люмiнесценцiя (О-люмiнесценцiя) з 604 нм. Іншi смуги люмiнесценцiї мали iнтенсивнiсть на межi чутливостi реєструючих приладiв (рис. 4, крива 1). У легованих зразках (NIn
1018
см-3
) реєструвалася тiльки безструктурна розмита смуга зеленого випромiнювання (рис. 4, крива 2). При збiльшеннi концентрацiї In (NIn
1019
см-3
) на фонi розмитої смуги зеленого випромiнювання появляється максимум iз »525 нм (рис. 4, крива 3).
Пiсля опромiнення легованих In монокристалiв їхнi спектри ФЛ у видимiй областi мають такi ж самi положення максимумiв свiчення, як i в нелегованих зразках, але при цьому iнтенсивнiсть випромiнювання та її розподiл по максимумах вiдрiзняється вiд такої в нелегованих кристалах. При кiмнатнiй температурi в опромiнених CdS:In зразках розгоряється червона люмiнесценцiя з 710 нм, зменшується iнтенсивнiсть з-люмiнесценцiї з положенням максимуму 510 нм (рис. 3, крива 3). При азотнiй температурi у спектрах, опромiнених CdS:In, домiнуючою стає смуга оранжевої люмiнесценцiї з 604 нм, смуга з-люмiнесценцiї набуває структури, яка характерна для нелегованих кристалiв iз положенням першого максимуму 514 нм, з’являється смуга екситонної люмiнесценцiї з 480 нм (рис. 4, крива 4).
Обговорення результатiв експерименту
Як вiдомо, In, який належить до елементiв ІІІ групи таблицi Мендєлєєва, при легуваннi монокристалiв CdS входить у решiтку як домiшка, що замiщує атоми Cd в катiоннiй пiдрешiтцi кристала, створюючи при цьому мiлкi донорнi рiвнi (InCd
) [1]. Очевидно, саме з цими донорними рiвнями зв’язанi додатковi максимуми поглинання i фотопровiдностi (524 нм), якi спостерiгалися при кiмнатнiй температурi в легованих In монокристалах CdS (рис. 1, пiк І). Оцiнена нами (за положенням домiшкового максимуму ФП) енергiя iонiзацiї центра InCdс
-(0,06±0,02) еВ, що добре узгоджується з енергетичним положенням донора InCd
, визначеним iншими авторами [1].
Додаткове бiлякрайове поглинання i максимум фотопровiдностi, якi спостерiгаються при кiмнатнiй температурi, зумовленi фотозбудженням електронiв iз валентної зони на донорнi центри InCd
з подальшою їхньою термоiонiзацiєю (при високих температурах) у зону провiдностi. Двосхiдчастi переходи подiбного типу часто спостерiгаються в легованих широкозонних напiвпровiдниках АІІ
ВVІ i фотопровiдностi.
Поява максимуму фотолюмiнiсценцiї з 525 нм при 77 К у зразках з великою концентрацiєю In, який накладається на безструктурну розмиту смугу з-люмiнесценцiї (рис. 4, крива 3), очевидно, також пов’язана з центром InCd
. Смуга ФЛ з 525 нм виникає внаслiдок рекомбiнацiї електронiв, що мiстяться на заповнених при низьких температурах донорних центрах (пов’язаних з InCd
), з дiрками валентної зони. Пiдтвердженням сказаного є зростання iнтенсивностi смуги ФЛ з 525 нм при збiльшеннi концентрацiї In та її гашення при пiдвищеннi температури (внаслiдок зменшення заповнення центрiв InCd
електронами). Центри з подiбними смугами люмiнесценцiї спостерiгались у кристалах CdS, легованих Li, який також утворює мiлкi домiшковi рiвнi в зонi [2].
Зменшення iнтенсивностi випромiнювання у легованих кристалах, розмиття i втрата структури найбiльш домiнуючої з-люмiнесценцiї, змiщення її максимуму в короткохвильову область спектра (при кiмнатнiй температурi) i вiдсутнiсть спектрiв екситонної люмiнесценцiї (рис. 3 i 4) свiдчить про значну дефектнiсть легованих зразкiв, особливо при високих концентрацiях легуючої домiшки (NIn
=1019
-1020
см-3
).
Параметри елементарної комiрки (визначенi за допомогою рентгенiвського дифрактометра HZG-4A) легованих кристалiв вiдрiзняються вiд параметрiв нелегованих зразкiв (табл. 1.).
Таблиця 1
Параметри елементарної комiрки CdS
i
CdS
:In
монокристалiв (NIn
»
1019-3
)
CdS |
CdS:In
|
Пiсля опромiнення, Ф=2×1017
см-2
|
а, |
с, |
а, |
с, |
а, |
с, |
4,1351
(4,1369)
|
(6,7157)
|
4,1320 |
6,7100 |
|
6,7125 |
У дужках подано табличнi данi для найбiльш чистих i структурно досконалих монокристалiв CdS [3].
За смугу з-люмiнесценцiї з 514 нм (77 К), яка є характерною для високоомних кристалiв вiдповiдальнi акцептори, роль яких вiдiграють мiжвузловi атоми сiрки (Si
) [2-5]. При цьому випромiнювальнi переходи зумовлено рекомбiнацiєю вiльних електронiв iз дiрками, захопленими акцепторами.
Зсув максимуму з-люмiнесценцiї на 10 нм у короткохвильову сторону спектра, розширення смуги випромiнювання при кiмнатнiй температурi в зразках CdS:In (рис. 3, крива 2) можна пояснити екрануванням центрiв свiчення зарядженими донорами, якими є InCd
при високих температурах. Пiдтвердженням сказаного може бути змiщення максимуму смуги з-люмiнесценцiї в довгохвильову сторону в процесi затухання, або при зменшеннi рiвня збудження люмiнесценцiї. Такi явища добре вiдомi в широкозонних кристалофосфорах з великою концентрацiєю легуючих домiшок, або дефектiв [6, 7]. Зменшення екранування акцепторiв Si
донорними центрами InCd
Радiацiйнi змiни в легованих зразках суттєво вiдрiзняються вiд тих, якi спостерiгалися в нелегованих кристалах CdS [8]. Електронне опромiнення монокристалiв CdS дозами Ф=2×1017
см-2 неопромiнених зразках (720 нм i 1,03 мкм). При цьому незначно зростало ОГФ (до 10%) без змiни максимумiв гашення (0,95 мкм i 1,4 мкм).
Опромiнення легованих зразкiв призводить до зникнення максимумiв домiшкового бiлякрайового поглинання i фотопровiдностi (рис. 1.), зростання ОГФ i змiни положення смуг гашення фотопровiдностi (рис. 2.), зростання iнтенсивностi люмiнесценцiї, появи смуги екситонної люмiнесценцiї, вiдновлення структури зеленої люмiнесценцiї, появи деяких нових смуг люмiнесценцiї (рис. 3 i 4). Параметри комiрки опромiнених CdS:In наближають-ся до таких в нелегованих зразках, що свiдчить про покращення в процесi опромiнення структури легованих кристалiв (табл. 1).
Найбiльш повно механiзми взаємодiї власних радiацiйних дефектiв з атомами легуючих домiшок були вивченi в кремнiї. Зокрема, було доведено [9], що взаємодiя мiжвузлових атомiв кремнiю з домiшками ІІІ групи може бути рiзною, залежно вiд спiввiдношення радiусiв домiшкового атома (rдомSiдом
> rSi
вiдбувається витiснення домiшкового атома мiжвузловим атомом кремнiю, який посiдає його мiсце у вузлi решiтки. При rдом
< rSi
витiснення вiдсутнє. Для атомiв iндiю i кадмiю rIn
> rCd
[10]. Якщо в бiнарних напiвпровiдниках має мiсце механiзм, який реалiзується в кремнiї, то слiд сподiватися, що мiжвузловi атоми кадмiю (CdiCdi
), якi виникають при цьому, взаємодiють з iншими радiацiйно наведеними дефектами i виходять, внаслiдок радiацiйно стимульованої дифузiї, на рiзнi стоки, тобто на дислокацiї, границi мiж двiйниками, поверхню тощо, якими багатi напiвпровiдники групи АІІ
ВVI
[6; 7]. Таке припущення добре пояснює зникнення пiсля опромiнення CdS:In домiшкових бiлякрайових максимумiв поглинання i фотопровiдностi, зменшення майже на два порядки величини темнової електропровiдностi, покращення структури кристала.
Зростання фоточутливостi в областi власної фотопровiдностi (рис. 1), збiльшення iнтенсивностi люмiнесцентного випромiнювання, зростання ОГФ (рис. 2) зумовленi покращенням структури i утворенням при електронному опромiненнi СdS:In повiльних центрiв рекомбiнацiї. Роль таких центрiв у нелегованих монокристалах CdS виконують VCd
[1; 2; 5; 8]. В опромiнених CdS:In повiльнi центри рекомбiнацiї мають iншу природу, про що свiдчать iншi, в порiвняннi з нелегованими кристалами, максимуми ОГФ (рис. 2).
При опромiненнi утворюються пари Френкеля як у пiдрешiтцi кадмiю, так i в пiдрешiтцi сiрки монокристалiв CdS. Пари Френкеля в пiдрешiтцi сiрки (зокрема компоненти пари Si
) вiдповiдальнi за зростання iнтенсивностi зеленої люмiнесценцiї в опромiнених нелегованих зразках CdS [8]. Очевидно, вони також вiдповiдальнi за зростання iнтенсивностi зеленої люмiнесценцiї в опромiнених СdS:In. VCd
, утворенi радiацiєю в СdS:In, можуть “анiгiлювати” з Cdi
Оскiльки в легованих кристалах зменшення концентрацiї Cdi
зумовлене як “анiгiляцiєю” з VCd
(особливо для близьких пар Френкеля), так i замiщенням InCd
(останнiй механiзм вiдсутнiй у нелегованих зразках), то залишкова концентрацiя VCd
в СdS:In пiсля опромiнення повинна бути бiльшою, нiж у CdS при однакових дозах електронної радiацiї. Крiм того, VCd
у легованих зразках можуть активно взаємодiяти з частиною атомiв Ini
. Тому можна припустити, що роль центрiв повiльної рекомбiнацiї в опромiнених СdS:In вiдiграють комплекси, до складу яких входять VCd
i Ini
, наприклад. Таке припущення пояснює пiдвищену концентрацiю повiльних центрiв рекомбiнацiї в опромiнених СdS:In (про що свiдчить бiльше гашення фотопровiдностi та бiльше зростання власної фоточутливостi) в порiвняннi з нелегованими зразками (де повiльнi центри зумовленi VCd
), опромiненими такими ж дозами електронiв.
Як вiдомо [11], за фотопровiднiсть у домiшковiй областi 580-600 нм, яка зростає при опромiненнi нелегованих монокристалiв CdS [12], вiдповiдальнi VCd
. Електронне опромiнення СdS:In призводить до зменшення фоточутливостi в областi >550 нм (рис. 1), що свiдчить про зменшення концентрацiї VCd
, очевидно, за рахунок їхньої взаємодiї з атомами iндiю.
Схему енергетичного положення рiвнiв повiльних центрiв рекомбiнацiї в СdS:In, оцiнених за максимумами ОГФ, подано на рис. 2б. Збудження дiрок iз основного стану з Еv
+1,65 eB у валентну зону зумовлює максимум ОГФ 0,75 мкм. За максимум ОГФ з 2
1,03 мкм вiдповiдальний перехiд дiрки у збуджений стан на центрi, який знаходиться на вiдстанi 1,2 еВ вiд основного стану (рис. 2б). При високих температурах перехiд дiрки у збуджений стан супроводжується їх термiчним дозбудженням у валентну зону. При низьких температурах, внаслiдок зменшення ймовiрностi такого дозбудження, вiдбувається виморожування пiка ОГФ з 2
1,03 мкм.
Подана вище схема гашення добре узгоджується з основним механiзмом ОГФ, який реалiзується в напiвпровiдниках групи АІІ
ВVI взаємодiєю мiж ними i релаксацiєю решiтки навколо комплексу. Остання в напiвпровiдниках АІІ
ВVІ положення таких у СdS на величину ~0,35 еВ. Очевидно, енергiя 0,35 еВ може бути зумовлена, в основному, релаксацiєю решiтки навколо VCd
при приєднаннi Ini
, який понижує симетрiю дефекту.
Пiсля опромiнення домiнуючою в легованих зразках при кiмнатнiй температурi стає смуга люмiнесценцiї з 710 нм, яка вiдсутня в неопромiнених кристалах (рис. 3, крива 3). Це свiдчить про утворення в СdS:In комплексiв дефектiв ()0iS
). У нелегованих, спецiально очищених СdS-монокристалах опромiнення практично не змiнює iнтенсивностi люмiнесценцiї 720 нм [8], що свiдчить про малу концентрацiю радiацiйно утворених VCd
, якi iнтенсивно “анiгiлюють” з Cdii
додатково взаємодiють з донорними центрами InCd
, що призводить до зростання (в порiвняннi з нелегованими) концентрацiї радiацiйно утворених VCd
.
При азотнiй температурi в опромiнених зразках СdS:In розгоряються оранжева люмiнесценцiя з 604 нм (яка вiдсутня в неопромiнених зразках), зелена люмiнесценцiя з 514 нм з роздiленими фононними повтореннями, екситонна люмiнесценцiя з 480 нм (рис. 4, крива 4) i нова iнфрачервона смуга з 1,2 мкм, вiдсутня в неопромiнених легованих зразках (в нелегованих CdS вона не проявляється як до, так i пiсля опромiнення [8]). Поява при 77 К о-, з- i екситонної люмiнесценцiї (якi гасились при кiмнатнiй температурi) призводить до перерозподiлу через цi центри основної частки рекомбiнацiйного потоку електронно-дiркових пар, що, очевидно, зумовлює зменшення iнтенсивностi люмiнесценцiї в iнших областях спектра. Природа центрiв о-люмiнесценцiї в CdS до кiнця не вияснена. Однi автори [5, 15] вважають, що до складу центрiв о-люмiнесценцiї входять мiлкi донори (якими є, наприклад, Cdi
) i VCd
, iншi [16, 17] основну роль в утвореннi центрiв о-люмiнесценцiї вiдводять атомам кисню, якi завжди присутнi як неконтрольованi домiшки в CdS. Можна припустити, що за о-люмiнесценцiю з 604 нм в опромiнених СdS:In вiдповiдальнi Ini
, витiсненi з вузлiв решiтки мiжвузловими (радiацiйно утвореними) атомами кадмiю i неконтрольвано присутнi в кристалах CdS:In атомами кисню. За смуги люмiнесценцiї з 1,2 мкм, очевидно, вiдповiдальнi випромiнювальнi рекомбiнацiйнi переходи вiльних електронiв iз дiрками, захопленими повiльними центрами рекомбiнацiї в опромiнених CdS:In-монокристалах.
Таким чином, нами вперше було дослiджено вплив опромiнення швидкими електронами з енергiєю Е=1,2 МеВ на електричнi i фотоелектричнi властивостi монокристалiв CdS, легованих In. Присутнiсть атомiв iндiю збiльшує швидкiсть введення дефектiв у кадмiєвiй пiдрешiтцi CdS в порiвняннi з чистими зразками. На основi аналiзу експериментальних результатiв було зроблено припущення, що в легованих iндiєм монокристалах CdS має мiсце механiзм дефектоутворення, який спостерiгається в елементарних напiвпровiдниках, легованих деякими домiшками. Радiацiйно утворенi мiжвузловi атоми кадмiю в СdS:In виштовхують iз вузлiв катiонної пiдрешiтки атоми iндiю. Мiжвузловi атоми iндiю, якi виникають при цьому, частково дифундують у процесi опромiнення на рiзнi стоки, покращуючи структуру кристалу, i взаємодiють iз вакансiями кадмiю, утворюючи акцепторнi комплекси, вiдповiдальнi за новi центри повiльної рекомбiнацiї.
1.
Бьюб
Р. Фотопроводимость твердых тел. – М.:Иностр.
лит. – 1962. – 558 с.
2.
Лашкарев В. Е., Любченко А. В., Шейнкман М. К. Неравновесные процессы в фотопроводниках. – К.:Наук
.
думка. – 1981. – 264 с.
3.
Физика и химия соединений
AII
BVI
/
Под ред
.
С. А. Медведева. – М.:
Мир. – 1970. – 624 с.
4.
Kulp
B. A., Kelley
//
J. Appl. Phys. – 1960. – V. 31, – №6. –
С
. 1057-1061.
5.
Ермолович И. Б., Любченко А. В., Шейкман М. К. Механизм зеленой краевой люминесценции в
CdS
6.
Гурвич А. М., Ильина М. А. Интеркристаллические реакции и центры свечения в сульфидах цинка и кадмия. В сб: Проблемы физики соединений
AII
BVI
7.
8.
– С. 2056-2061.
9.
Емцов
В. В., Машовец
Т. В. Примеси и точечные дефекты в полупроводниках. – М.: Радио
,
1981. – 248 с.
10.
Свойства неорганических соединений. Справочник.
/
Ефимова и др. – Л.: Химия
,
1983.
–
392 с.
11.
Птащенко
И. А. Инфракрасное гашение примесной фотопроводи
-
мости в сульфиде кадмия
//
ФТТ.
–
1966.
– №5.– С. 1623-1625.
12.
Давидюк Г. Е., Богданюк Н. С., Мак В. Т., Божко В. В.
Фотопроводимость облученных электрона
-
ми нелегированных и легированных медью монокристаллов
CdS
//
Фотоэлектроника.
– 1990.– В. З.– С. 7-12.
13.
Уоткинс
Дж. Дефекты решетки в соединениях А
II
BVI
. В кн.
:
Точечные дефекты в твердых телах.
/
Под. ред. Б. И. Болтакса и др.
–
М.:
Мир
,
1979.
–
380 с.
14.
Ермолович
И. Б., Матвиевская
Г. С., Шейнкман
М. К. Люминесценция монокриста
-
ллов
CdS
, легированных различными донорами и акцепторами
//
–
1973.
–
Т. 18.
–
№5.
–
15.
Ермолович
Г. И., Шейнкман
М. К. О природе центров оранжевой люми
-
//
ФТТ.
–
1975.
– Т. 9.– В. 8.– С. 1620-1623.
16.
Давидюк Г. Е., Манжара В. С., Богданюк Н. С., Шаварова А. П., Булатецкий В. В.
Влияние элек
-
тронной и нейтронной радиации на спектры оранжевой люминесценции специально нелегированных и легированных медью монокристаллов сульфида кадмия
//
ФТП.
–
1997.
– Т. 31.– В. 4.– С. 390-392.
17. Морозова
Н. К., Морозов
А. В., Каретников
И. А., Назарова
Л. Д., Данилевич
//
В
. 10. – С. 1699-1713.
|